Pengunaan Eddy current dalam industri sudah umum karena keunggulannya dalam mendeteksi cacat subsurface pada logam yang konduktif, dalam praktis pengujian NDT tradisional yang memanfaatkan sifat elektromagnetis. Dasar dari banyak peralatan NDT (juga pada UT, Radiography, Dye Penetrant) yang memanfaatkan sifat - sifat fisika material. Karena perlakuan yang disyaratkan cukup komplek untuk dapat dihasilkan inspeksi yang akurat, metode - metode tersebut semakin terbatas pemakaiannya seiring dengan kebutuhan industri yang semakin inovatif. BFET (Balanced Field Electromagnetic Technique) adalah teknologi terkini yang bekerja seperti scanner tanpa memerlukan preparasi yang rumit dan kompleks. Batasan BFET dapat digunakan sampai kedalaman permukaan 0,375" atau 9,5 mm dan sudah diaplikasikan untuk inspeksi Tangki, Piping, Tube Stub, Drum, Column, Dryer, Heat Exchanger Shell, dan banyak peralatan industri lain. Metode lain yang mirip dengan BFET adalah ACFM (Alternating current field measurement) yang mengkombinasikan keuntungan dari teknik ACPD (Alternating Current Potential Drop) dan ECT (Eddy Current Testing).
Prinsip dasar dari BFET adalah memanfaatkan sinyal elektromagnetik yang dihasilkan oleh coil yang disusun sedemikian rupa pada sumbu x dan z (potensial pada 0 satu sama lain). Coil pada bidang x berfungsi sebagai penghasil sinyal dan coil pada bidang z sebagai sensor penerima menghasilkan fluks yang seragam dan stabil. Seperti terlihat pada gambar, ketika terdapat cacat pada logam, fluks akan terganggu sehingga menghasilkan informasi adanya cacat.
Kelebihan dari sifat elektromagnetik, tidak diperlukan syarat khusus pada permukaan yang akan diinspeksi, baik pada permukaan yang dilapisi cat, epoxy maupun rubber lining misalnya. Karena pada dasarnya sensor probe tidak harus kontak langsung dengan material yang diinspeksi. BFET dapat diaplikasikan sampai dengan 1 ft/sec sepanjang material uji. Sensor probe (Hawk-eye Probe) tipe sederhana mampu mendeteksi sampai kedalaman 0,125" (3 mm), seukuran pensil dan dapat dibentuk (machining) untuk mendapatkan sudut sesuai permukaan material uji. Juga dapat dibuat dari bahan keramik yang memungkinkan untuk inspeksi pada temperatur sampai 500 derajad Fahrenheit (260 derajad celcius).
Sensor Probe juga dapat digunakan secara paralel untuk mendapatkan hasil inspeksi lebih lebar atau pada sisi radial (Piping) dalam satu waktu sepanjang L. Data disajikan secara real-time, memudahkan untuk menandai lokasi cacat. Yang perlu diperhatikan dalam melakukan inspeksi yaitu agar selama pergerakan probe dapat berjalan dengan halus tanpa gangguan. Sehingga desain probe juga sangat penting dalam proses scanning dengan BFET. diadaptasi dari testex-ndt.com.
 |
| Hasil Scanning dengan BFET, Cacat diindikasikan dalam 3D Color Display |
Kategori: NDT
